Devices & Instruments - FIST FRINNOV

Fist/Frinnov

Microscopy

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Scattering medium`s anisotropy characterizing method

Device for obtaining the image and/or spectra of electron energy loss

Non-invasive interferometric detection and measurement of optoelectronic properties of a medium

Apparatus for non-invasively detecting and measuring electrical field

Energy filter, transmission electron microscope and associated method for filtering energy

Interferometric confocal microscope

Device for the exalted detection of the emission of a target particle

Heterodyne detection of an object for microscopy near-field interference

Micro-optical device for detecting exalted luminescent particles

Probe for atomic force microscope

Structured illumination system for three-dimensional microscopy

METHOD AND DEVICE FOR HIGH-SPEED INTERFERENTIAL MICROSCOPIC IMAGING OF AN OBJECT

HIGHER HARMONICS ATOMIC FORCE MICROSCOPE

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